文献
J-GLOBAL ID:200902125551679631
整理番号:95A0818811
PtSiソース及びドレイン電界放出トランジスタの実験研究
Experimental investigation of a PtSi source and drain field emission transistor.
著者 (3件):
SNYDER J P
(Stanford Univ., California)
,
HELMS C R
(Stanford Univ., California)
,
NISHI Y
(Hewlett-Packard ULSI Res. Lab., California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
67
号:
10
ページ:
1420-1422
発行年:
1995年09月04日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)