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J-GLOBAL ID：200902125744637707 整理番号：93A0546551

走査トンネル顕微鏡(STM)と原子間力顕微鏡(AFM)による大気条件での物質の表面特性評価

Surface Characterization of Materials at Ambient Conditions by Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Atomic Force Microscopy (AFM).

著者 (1件)：

MAGONOV S N

(Alberts-Ludwig Univ., Freiburg, DEU)

資料名：

Applied Spectroscopy Reviews (Applied Spectroscopy Reviews)

巻： 28 号： 1/2 ページ： 1-121 発行年： 1993年03月
JST資料番号： B0804A ISSN： 0570-4928 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：文献レビュー発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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