文献
J-GLOBAL ID:200902126653584550
整理番号:94A0053144
Spectroscopie ellipsometry: a useful tool to determine the refractive indices and interfaces of In0.52Al0.48As and In0.53AlxGa0.47-xAs layers on InP in the wavelength range 280-1900nm.
著者 (5件):
DINGES H W
(Deutsche Bundespost Telekom Forschungs- und Technologiezentrum, Darmstadt, DEU)
,
BURKHARD H
(Deutsche Bundespost Telekom Forschungs- und Technologiezentrum, Darmstadt, DEU)
,
LOESCH R
(Deutsche Bundespost Telekom Forschungs- und Technologiezentrum, Darmstadt, DEU)
,
NICKEL H
(Deutsche Bundespost Telekom Forschungs- und Technologiezentrum, Darmstadt, DEU)
,
SCHLAPP W
(Deutsche Bundespost Telekom Forschungs- und Technologiezentrum, Darmstadt, DEU)
資料名:
Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology
(Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology)
巻:
21
号:
2/3
ページ:
174-176
発行年:
1993年11月20日
JST資料番号:
T0553A
ISSN:
0921-5107
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)