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文献
J-GLOBAL ID：200902126704894231
整理番号：99A0891590
荷電K中間子タギングを用いたZ0崩壊におけるAbの直接測定
Direct Measurement of Ab in Z0 Decays Using Charged Kaon Tagging.
ABE K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ALLEN N J
(Brunel Univ., Middlesex, GBR)
,
CAMANZI B
(Univ. Ferra, Ferrara, ITA)
,
EISENSTEIN B I
(Univ. Illinois, Illinois)
,
KROEGER R S
(Univ. Mississippi, Mississippi)
,
TAYLOR F E
(Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts)
,
WILLIAMS S H
(Stanford Univ., California)
,
WRIGHT T R
(Univ. Wisconsin, Wisconsin)
,
ZHOU J
(Univ. Oregon, Oregon)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 83 号： 10 ページ： 1902-1907 発行年： 1999年09月06日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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