文献
J-GLOBAL ID:200902126899778516
整理番号:93A0780309
半導体の接触部抵抗の測定と半導体の電気伝導度の試験
Measurement of the Resistance of Contacts and Tests of the Electrical Conductivity of Semiconductors.
著者 (1件):
POLYAKOV N N
(Lipetsk State Pedagogic Inst.)
資料名:
Industrial Laboratory. Diagnostics of Materials
(Industrial Laboratory. Diagnostics of Materials)
巻:
58
号:
11
ページ:
1054-1059
発行年:
1993年05月
JST資料番号:
C0557A
ISSN:
0019-8447
CODEN:
INLAF3
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)