文献
J-GLOBAL ID:200902127305049494
整理番号:99A0855534
タッピングモード近接場走査光学顕微鏡を用いた光導波路中の局所屈折率変化の画像化
Imaging local index variations in an optical waveguide using a tapping-mode near-field scanning optical microscope.
著者 (4件):
TSAI D P
(National Taiwan Univ., Taipei, TWN)
,
YANG C W
(National Chung Cheng Univ., Chia Yi, TWN)
,
LO S-Z
(National Chung Cheng Univ., Chia Yi, TWN)
,
JACKSON H E
(Univ. Cincinnati, Ohio)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
75
号:
8
ページ:
1039-1041
発行年:
1999年08月23日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)