文献
J-GLOBAL ID:200902127376885897
整理番号:93A0247307
放出したCsX+イオンを用いたSIMS分析
SIMS analysis using ejected CsX+ ions.
著者 (2件):
THOMAS E W
(School of Physics Georgia Tech., GA, USA)
,
TORABI A
(Research Inst. Georgia Tech., GA, USA)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
73
号:
2
ページ:
214-220
発行年:
1993年02月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)