文献
J-GLOBAL ID:200902127506180297
整理番号:01A0793834
収差を補正した透過型走査電子顕微鏡法の進展
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
著者 (5件):
DELLBY N
(Nion R&D, WA, USA)
,
KRIVANEK O L
(Nion R&D, WA, USA)
,
NELLIST P D
(Nion R&D, WA, USA)
,
BATSON P E
(IBM T.J. Watson Res. Center, NY, USA)
,
LUPINI A R
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
50
号:
3
ページ:
177-185
発行年:
2001年
JST資料番号:
G0104A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)