文献
J-GLOBAL ID:200902127526823470
整理番号:99A0331652
相変態における界面でのin situ高分解能透過型電子顕微鏡観測
In situ High-Resolution Transmission Electron Microscopy of Interfaces in Phase Transformations.
著者 (5件):
HOWE J M
(Univ. Virginia, VA, USA)
,
MOORE K T
(Univ. Virginia, VA, USA)
,
CSONTOS A A
(Univ. Virginia, VA, USA)
,
BENSON W E
(Univ. Virginia, VA, USA)
,
TSAI M M
(Heraeus Inc., AZ, USA)
資料名:
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻:
294/296
ページ:
43-50
発行年:
1999年
JST資料番号:
D0716B
ISSN:
0255-5476
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)