文献
J-GLOBAL ID:200902127729805329
整理番号:00A0455985
Si/Ge超格子薄膜の異常に大きい熱電能の起源の研究
The Study of the Origin of the Anomalously Large Thermoelectric Power of Si/Ge Superlattice Thin Film.
著者 (4件):
UCHINO H
(National Defense Acad., Yokosuka, JPN)
,
OKAMOTO Y
(National Defense Acad., Yokosuka, JPN)
,
KAWAHARA T
(National Defense Acad., Yokosuka, JPN)
,
MORIMOTO J
(National Defense Acad., Yokosuka, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
39
号:
4A
ページ:
1675-1677
発行年:
2000年04月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)