文献
J-GLOBAL ID:200902127733384672
整理番号:93A0763307
新しいM-試験容易性を用いる機能レベルの試験容易性評価
A Functional-Level Testability Evaluation Using a New M-Testability Approach.
著者 (2件):
JAMOUSSI M
(Ecole Polytechnique de Montr<span style=text-decoration:overline>e ́</span>al, Montr<span style=text-decoration:overline>e ́</span>al, CAN)
,
KAMINSKA B
(Ecole Polytechnique de Montr<span style=text-decoration:overline>e ́</span>al, Montr<span style=text-decoration:overline>e ́</span>al, CAN)
資料名:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
(IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻:
1993
号:
Vol 3
ページ:
1611-1614
発行年:
1993年
JST資料番号:
A0757A
ISSN:
0271-4302
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)