文献
J-GLOBAL ID:200902127923022670
整理番号:98A0947955
組合せ合成のシンクロトロンX線マイクロビーム診断
Synchrotron x-ray microbeam diagnostics of combinatorial synthesis.
著者 (9件):
ISAACS E D
(Bell Lab., New Jersey)
,
MARCUS M
(Bell Lab., New Jersey)
,
AEPPLI G
(NEC Res., New Jersey)
,
XIANG X-D
(Lawrence Berkeley Lab., California)
,
SUN X-D
(Lawrence Berkeley Lab., California)
,
SCHULTZ P
(Lawrence Berkeley Lab., California)
,
KAO H-K
(Columbia Univ., New York)
,
CARGILL G S III
(Columbia Univ., New York)
,
HAUSHALTER R
(Symyx Technol., California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
73
号:
13
ページ:
1820-1822
発行年:
1998年09月28日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)