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文献
J-GLOBAL ID：200902128223747432
整理番号：00A0751735
転換電子119Sn Moessbauer分光法とHall効果測定によるすずドープIn2O3膜におけるドナー補償及びキャリア輸送機構の研究
Donor Compensation and Carrier-Transport Mechanisms in Tin-doped In2O3 Films Studied by Means of Conversion Electron 119Sn Moessbauer Spectroscopy and Hall Effect Measurements.
YAMADA N
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
YASUI I
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SHIGESATO Y
(Aoyamagakuin Univ., Tokyo, JPN)
,
LI H
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
UJIHARA Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
NOMURA K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 39 号： 7A ページ： 4158-4163 発行年： 2000年07月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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