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文献
J-GLOBAL ID:200902128410020759   整理番号:00A0796186

イオンエッチング後にエネルギー分散型X線微量分析を組合せた走査型電子顕微鏡検査法を用いて,エポキシ樹脂半薄切片で線維芽細胞に取込まれた細胞マーカーを検出し,存在部位を明らかにする新しい手法

A new method for detecting and localizing cell markers endocytosed by fibroblasts in epoxy resin semi-thin sections using scanning electron microscopy combined with energy dispersive X-ray microanalysis after ion-etching.
著者 (6件):
FUJIWARA T
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
SHIMIZU D
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
KON K
(Ehime Coll. Health Sci., Ehime, JPN)
ISSHIKI N
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
TSUNOKUNI H
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
AOYAGI S
(JEOL Ltd., Osaka City, JPN)

資料名:
Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)

巻: 49  号:ページ: 551-558  発行年: 2000年 
JST資料番号: G0104A  ISSN: 0022-0744  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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