文献
J-GLOBAL ID:200902128410020759
整理番号:00A0796186
イオンエッチング後にエネルギー分散型X線微量分析を組合せた走査型電子顕微鏡検査法を用いて,エポキシ樹脂半薄切片で線維芽細胞に取込まれた細胞マーカーを検出し,存在部位を明らかにする新しい手法
A new method for detecting and localizing cell markers endocytosed by fibroblasts in epoxy resin semi-thin sections using scanning electron microscopy combined with energy dispersive X-ray microanalysis after ion-etching.
著者 (6件):
FUJIWARA T
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
,
SHIMIZU D
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
,
KON K
(Ehime Coll. Health Sci., Ehime, JPN)
,
ISSHIKI N
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
,
TSUNOKUNI H
(Ehime Univ. School of Mdicine, Ehime, JPN)
,
AOYAGI S
(JEOL Ltd., Osaka City, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
49
号:
4
ページ:
551-558
発行年:
2000年
JST資料番号:
G0104A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)