文献
J-GLOBAL ID:200902128530430748
整理番号:94A0129198
陽子マイクロプローブ照射で調べたレトログレード壁を用いる電荷収集制御
Charge Collection Control Using Retrograde Well Tested by Proton Microprobe Irradiation.
著者 (7件):
SAYAMA H
(Osaka Univ., Osaka)
,
KIMURA H
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo)
,
OHNO Y
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo)
,
SATOH S
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo)
,
SONODA K
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo)
,
KOTANI N
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo)
,
TAKAI M
(Osaka Univ., Osaka)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
32
号:
12B
ページ:
6287-6290
発行年:
1993年12月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)