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文献
J-GLOBAL ID：200902128728083563
整理番号：94A0873139
レーザプラズマ分光法で固体環境試料を痕跡元素分析するための検出装置
Detector for Trace Elemental Analysis of Solid Environmental Samples by Laser Plasma Spectroscopy.
WISBRUN R
(Technical Univ. Munich, Munich, DEU)
,
NIESSNER R
(Technical Univ. Munich, Munich, DEU)
,
SCHECHTER I
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
,
SCHROEDER H
(Max Planck Inst. Quantum Optics, Garching,DEU)
,
KOMPA K L
(Max Planck Inst. Quantum Optics, Garching,DEU)
資料名：
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻： 66 号： 18 ページ： 2964-2975 発行年： 1994年09月15日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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