文献
J-GLOBAL ID:200902129451295220
整理番号:94A0775992
厚さを変えたPbZr0.51Ti0.49O3薄膜の強誘電性と疲労 空乏層モデル
Ferroelectric properties and fatigue of PbZr0.51Ti0.49O3 thin films of varying thickness: Blocking layer model.
著者 (4件):
LARSEN P K
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
DORMANS G J M
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
TAYLOR D J
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
VAN VELDHOVEN P J
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
76
号:
4
ページ:
2405-2413
発行年:
1994年08月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)