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文献
J-GLOBAL ID：200902129609576248
整理番号：95A0053131
MOSデバイスの1/f雑音,移動度か数の揺らぎか?
1/f Noise in MOS Devices, Mobility or Number Fluctuations?
VANDAMME L K J
(Eindhoven Univ. Technology, Eindhoven, NLD)
,
LI X
(Eindhoven Univ. Technology, Eindhoven, NLD)
,
RIGAUD D
(Univ. Montpellier II, Montpellier, FRA)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 41 号： 11 ページ： 1936-1945 発行年： 1994年11月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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