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文献
J-GLOBAL ID：200902129622951422
整理番号：00A0480351
集積回路のための走査型SQUID顕微鏡
Scanning SQUID microscopy of integrated circuits.
CHATRAPHORN S
(Univ. Maryland, Maryland)
,
FLEET E F
(Univ. Maryland, Maryland)
,
WELLSTOOD F C
(Univ. Maryland, Maryland)
,
KNAUSS L A
(Neocera, Inc., Maryland)
,
EILES T M
(Intel Corp., California)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 76 号： 16 ページ： 2304-2306 発行年： 2000年04月17日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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