文献
J-GLOBAL ID:200902130762991350
整理番号:95A0819840
原子間力顕微鏡におけるチップ誘起陽極酸化によりSi(100)上へ成長した薄いクロム膜のナノ構造形成
Nanofabrication of thin chromium film deposited on Si(100) surfaces by tip induced anodization in atomic force microscopy.
著者 (4件):
WANG D
(Univ. California at Los Angeles, California)
,
TSAU L
(Univ. California at Los Angeles, California)
,
WANG K L
(Univ. California at Los Angeles, California)
,
CHOW P
(SVT Associates, Inc., Minnesota)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
67
号:
9
ページ:
1295-1297
発行年:
1995年08月28日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)