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文献
J-GLOBAL ID:200902130762991350   整理番号:95A0819840

原子間力顕微鏡におけるチップ誘起陽極酸化によりSi(100)上へ成長した薄いクロム膜のナノ構造形成

Nanofabrication of thin chromium film deposited on Si(100) surfaces by tip induced anodization in atomic force microscopy.
著者 (4件):
WANG D
(Univ. California at Los Angeles, California)
TSAU L
(Univ. California at Los Angeles, California)
WANG K L
(Univ. California at Los Angeles, California)
CHOW P
(SVT Associates, Inc., Minnesota)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 67  号:ページ: 1295-1297  発行年: 1995年08月28日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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