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文献
J-GLOBAL ID：200902130765524558
整理番号：99A0017777
変電所整流器に用いられる電力半導体素子の長期信頼性評価
Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices Used in Substation Rectifiers.
HORIUCHI T
(Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo prefecture, JPN)
,
SUGAWARA Y
(Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo prefecture, JPN)
資料名：
Proceedings of the 10th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs, 1998
(Proceedings of the 10th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs, 1998)
ページ： 195-198 発行年： 1998年
JST資料番号： K19980600 ISBN： 0-7803-4752-8 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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