前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:200902130871182496   整理番号:01A0822326

材料劣化機構の電磁解明 マルテンサイト変態を利用した電磁的材料劣化評価

著者 (4件):
中曽根祐司
(東京理大)
岩崎祥史
(東京理大 大学院)
清水徹
(東京理大 大学院)
霞総司
(東京理大 大学院)

資料名:
日本AEM学会誌  (Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics)

巻:号:ページ: 123-130  発行年: 2001年06月10日 
JST資料番号: L2703A  ISSN: 0919-4452  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。