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文献
J-GLOBAL ID：200902131162767533
整理番号：98A0729141
単色光微細プローブX線蛍光による微量分析 物理的基礎,特性,および将来の見通し
Microanalysis by monochromatic microprobe x-ray fluorescence. Physical basis, properties, and future prospects.
CHEN Z W
(Univ. Southern California, California)
,
WITTRY D B
(Univ. Southern California, California)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 84 号： 2 ページ： 1064-1073 発行年： 1998年07月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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