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文献
J-GLOBAL ID：200902131293551900
整理番号：96A0521838
コンピュータエレクトロニクスにおけるソフトエラーに関するIBM社の実験(1978-1994)
IBM experiments in soft fails in computer electronics (1978-1994).
ZIEGLER J F
(IBM Res. Div., New York)
,
CURTIS H W
(IBM Res. Div., New York)
,
MUHLFELD H P
(IBM Microelectronics Div., New York)
,
WANG W Y
(IBM Systems Technol. and Architecture Div., Texas)
,
ORRO J M
(Personal Computer Co., North Carolina)
,
ENGER T A
(IBM System/390 Div., New York)
,
TOLAT V
(IBM Corp.)
,
TABER A H
(Loral Federal Systems Co., New York)
,
WAHAUS C W
(IBM Corp.)
資料名：
IBM Journal of Research and Development
(IBM Journal of Research and Development)
巻： 40 号： 1 ページ： 3-18 発行年： 1996年01月
JST資料番号： D0061B ISSN： 0018-8646 CODEN： IBMJAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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