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文献
J-GLOBAL ID：200902131780433042
整理番号：02A0409432
p型SiCへのAl-Tiオーミックコンタクトの形態研究
Morphological study of the Al-Ti ohmic contact to p-type SiC.
MOHNEY S E
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
HULL B A
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
LIN J Y
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
CROFTON J
(Murray State Univ., KY, USA)
資料名：
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻： 46 号： 5 ページ： 689-693 発行年： 2002年05月
JST資料番号： H0225A ISSN： 0038-1101 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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