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文献
J-GLOBAL ID：200902132271660818
整理番号：99A0355980
りん化インジウム表面の電気化学エッチングのボルタンメトリーおよび走査プローブ顕微鏡による研究
Electrochemical Etching of Indium Phosphide Surfaces Studied by Voltammetry and Scanned Probe Microscopes.
KANESHIRO C
(Hokkaido Univ., Hokkaido)
,
SATO T
(Hokkaido Univ., Hokkaido)
,
HASEGAWA H
(Hokkaido Univ., Hokkaido)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 38 号： 2B ページ： 1147-1152 発行年： 1999年02月28日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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