文献
J-GLOBAL ID:200902133861842756
整理番号:99A0562594
Al薄膜/LB薄膜上に共鳴励起した表面プラズモンによるエバネッセント場の検出とその強度特性
Evaluation of Evanescent Fields on Al Thin Film/LB Thin Film Caused by Resonantly Excited Surface Plasmons.
著者 (7件):
中野貴之
(新潟大)
,
小林肇
(新潟大)
,
金子双男
(新潟大)
,
新保一成
(新潟大)
,
加藤景三
(新潟大)
,
川上貴浩
(新潟大)
,
若松孝
(茨城工高専)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
99
号:
79(OME99 12-22)
ページ:
35-40
発行年:
1999年05月21日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)