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文献
J-GLOBAL ID：200902133932515280
整理番号：95A0355199
Laue法を用いた多色シンクロトロン放射による微小部回折システムの開発
Development of a microarea diffraction system by polychromatic synchrotron radiation with the Laue method.
OHSUMI K
(National Lab. High Energy Physics(KEK), Ibaraki, JPN)
,
HAGIYA K
(Himeji Inst. Technology, Hyogo, JPN)
,
UCHIDA M
(Graduate Univ. Advanced Studies, Ibaraki, JPN)
,
SUDA N
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
MIYAMOTO M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KITAMURA M
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
OHMASA M
(Himeji Inst. Technology, Hyogo, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 66 号： 2 Pt 2 ページ： 1448-1450 発行年： 1995年02月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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