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文献
J-GLOBAL ID:200902134043079059   整理番号:94A0028688

n型ドープGaAs中の転位の顕微Raman研究

Micro Raman Study of Dislocations in n-Type Doped GaAs.
著者 (5件):
PAETZOLD O
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
IRMER G
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
MONECKE J
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
GRIEHL S
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
OETTEL O
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)

資料名:
Journal of Raman Spectroscopy  (Journal of Raman Spectroscopy)

巻: 24  号: 11  ページ: 761-766  発行年: 1993年11月 
JST資料番号: D0305C  ISSN: 0377-0486  CODEN: JRSPAF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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