文献
J-GLOBAL ID:200902134043079059
整理番号:94A0028688
n型ドープGaAs中の転位の顕微Raman研究
Micro Raman Study of Dislocations in n-Type Doped GaAs.
著者 (5件):
PAETZOLD O
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
,
IRMER G
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
,
MONECKE J
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
,
GRIEHL S
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
,
OETTEL O
(Freiberg Univ. Mining and Technology, Freiberg, DEU)
資料名:
Journal of Raman Spectroscopy
(Journal of Raman Spectroscopy)
巻:
24
号:
11
ページ:
761-766
発行年:
1993年11月
JST資料番号:
D0305C
ISSN:
0377-0486
CODEN:
JRSPAF
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)