文献
J-GLOBAL ID:200902135004974241
整理番号:01A0837115
室温走査型マイクロ・ホール・プローブ顕微鏡による磁区観察
Sub-Micron Magnetic Imaging by Room Temperature Scanning Hall Probe Microscopy.
著者 (4件):
SANDHU A
(Tokai Univ.)
,
MASUDA H
(Toei Kogyo Ltd.)
,
ORAL A
(Bilkent Univ.)
,
BENDING S J
(Univ. Bath)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
101
号:
179(MR2001 14-20)
ページ:
1-4
発行年:
2001年07月13日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)