文献
J-GLOBAL ID:200902135100164218
整理番号:93A0292960
RHEED-TRAXSとUHV-SEMにより調べたSiとGe上の金属のエピタキシャル成長
Epitaxial growth of metals on Si and Ge investigated by RHEED-TRAXS and UHV-SEM.
著者 (3件):
INO S
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
YAMANAKA T
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
ITO S
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
283
号:
1/3
ページ:
319-326
発行年:
1993年03月01日
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)