文献
J-GLOBAL ID:200902135455293485
整理番号:94A0285920
EMC(電磁干渉)試験台 試験方法論,モジュールレベルの試験,標準化
EMC workbench: testing methodology, module level testing and standardization.
著者 (1件):
COENEN M J
(Philips Semiconductors, Eindhoven, NLD)
資料名:
Philips Journal of Research
(Philips Journal of Research)
巻:
48
号:
1/2
ページ:
83-116
発行年:
1994年01月
JST資料番号:
D0313A
ISSN:
0165-5817
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)