文献
J-GLOBAL ID:200902135765311912
整理番号:93A0555514
接触試験における表面波の点集束の新構成と解析
New Design and Analysis for Point-Focusing of Surface Waves in Contact Testing.
著者 (3件):
KIM B G
(Korea Research Inst. Standards and Science, Taejon, KOR)
,
LEE J O
(Korea Research Inst. Standards and Science, Taejon, KOR)
,
LEE S
(Korea Research Inst. Standards and Science, Taejon, KOR)
資料名:
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control
(IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control)
巻:
40
号:
2
ページ:
162-166
発行年:
1993年03月
JST資料番号:
H0369A
ISSN:
0885-3010
CODEN:
ITUCER
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)