文献
J-GLOBAL ID:200902136381276377
整理番号:94A0402598
a-Siを用いたTFTの入力段階の容量測定による研究
Capacitance studies of the a-Si TFT input stage.
著者 (5件):
LONG A R
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
,
CHAHDI M
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
,
RODLEY D G
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
,
NONOMURA S
(Univ. Dundee, Dundee, GBR)
,
LE COMBER P G
(Univ. Dundee, Dundee, GBR)
資料名:
Journal of Non-Crystalline Solids
(Journal of Non-Crystalline Solids)
巻:
164/166
号:
Pt 2
ページ:
767-770
発行年:
1993年12月
JST資料番号:
D0642A
ISSN:
0022-3093
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)