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文献
J-GLOBAL ID:200902136381276377   整理番号:94A0402598

a-Siを用いたTFTの入力段階の容量測定による研究

Capacitance studies of the a-Si TFT input stage.
著者 (5件):
LONG A R
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
CHAHDI M
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
RODLEY D G
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
NONOMURA S
(Univ. Dundee, Dundee, GBR)
LE COMBER P G
(Univ. Dundee, Dundee, GBR)

資料名:
Journal of Non-Crystalline Solids  (Journal of Non-Crystalline Solids)

巻: 164/166  号: Pt 2  ページ: 767-770  発行年: 1993年12月 
JST資料番号: D0642A  ISSN: 0022-3093  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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