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文献
J-GLOBAL ID：200902136683752011
整理番号：99A0819357
集積フロントエンドJFETのゲートからドレインへの電流による半導体検出器における連続電荷回復
Continuous Charge Restoration in Semiconductor Detectors by Means of the Gate-to-Drain Current of the Integrated Front-End JFET.
FIORINI C
(Politecnico di Milano, Milano, ITA)
,
LECHNER P
(KETEK GmbH, Obserschleisscheim, DEU)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 46 号： 3,Pt.3 ページ： 761-764 発行年： 1999年06月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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