文献
J-GLOBAL ID:200902136911837715
整理番号:96A0957900
水素エッチングによる6H-SiC(0001)基板からの研磨で生じた損傷の除去
Removal of polishing-induced damage from 6H-SiC(0001) substrates by hydrogen etching.
著者 (4件):
OWMAN F
(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)
,
HALLIN C
(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)
,
MARTENSSON P
(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)
,
JANZEN E
(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
167
号:
1/2
ページ:
391-395
発行年:
1996年09月
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)