文献
J-GLOBAL ID:200902137023291450
整理番号:93A0845508
X線反射率の解析における幾何学因子の補正
The Correction of Geometrical Factors in the Analysis of X-ray Reflectivity.
著者 (3件):
GIBAUD A
(Univ. Maine, Le Mans, FRA)
,
VIGNAUD G
(Univ. Maine, Le Mans, FRA)
,
SINHA S K
(Exxon Research Lab., NJ, USA)
資料名:
Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography
(Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻:
49
号:
4
ページ:
642-648
発行年:
1993年07月01日
JST資料番号:
A0315B
ISSN:
0108-7673
CODEN:
ACACEQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)