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文献
J-GLOBAL ID:200902137256588649   整理番号:99A0866124

走査型熱顕微鏡を用いた横方向エピタキシャル被覆成長GaN/サファイア(0001)の高空間分解能熱伝導率の測定

High spatial resolution thermal conductivity of lateral epitaxial overgrown GaN/sapphire (0001) using a scanning thermal microscope.
著者 (5件):
ASNIN V M
(City Univ. New York, New York)
POLLAK F H
(City Univ. New York, New York)
RAMER J
(EMCORE Corp., New Jersey)
SCHURMAN M
(EMCORE Corp., New Jersey)
FERGUSON I
(EMCORE Corp., New Jersey)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 75  号:ページ: 1240-1242  発行年: 1999年08月30日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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