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文献
J-GLOBAL ID：200902137553468997
整理番号：01A0836255
エポン切片のイオンエッチングによる走査電顕試料作製法とその三次元再構築への応用
長門俊一
(福岡歯大 口腔解剖学講座)
,
久永豊
(福岡歯大 歯科矯正学講座)
,
清水大三郎
(愛媛大 医 実験実習機器セ)
,
藤原隆
(愛媛大 医 動物実験施設)
資料名：
電子顕微鏡
(日本電子顕微鏡学会会報)
巻： 36 号： 2 ページ： 131-134 発行年： 2001年07月31日
JST資料番号： Y0541A ISSN： 0417-0326 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： データシートなど 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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