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文献
J-GLOBAL ID:200902137574206801   整理番号:93A0649393

X線小角散乱法による水素化アモルファスシリコンの構造評価

Structural Evaluation of Hydrogenated Amorphous Silicon by SAXS.
著者 (4件):
崎川伸基
(広島大 工)
玉尾正樹
(広島大 工)
宮崎誠一
(広島大 工)
広瀬全孝
(広島大 工)

資料名:
応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)

巻: 40th  号: Pt 2  ページ: 815  発行年: 1993年03月 
JST資料番号: Y0054A  資料種別: 会議録 (C)
発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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