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文献
J-GLOBAL ID：200902138070452778
整理番号：01A0873200
半導体の埋め込み構造のバリスティック電子放出顕微鏡画像と分光分析
BEEM imaging and spectroscopy of buried structures in semiconductors.
NARAYANAMURTI V
(Harvard Univ., Massachusetts, USA)
,
KOZHEVNIKOV M
(Harvard Univ., Massachusetts, USA)
資料名：
Physics Reports
(Physics Reports)
巻： 349 号： 6 ページ： 447-514 発行年： 2001年08月
JST資料番号： A0800A ISSN： 0370-1573 CODEN： PRPLCM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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