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文献
J-GLOBAL ID：200902138666873517
整理番号：93A0311199
軟X線吸収分光法で研究したSi(111)7×7上のSm層における原子価変換
Valency changeover in Sm layers on Si(111)7×7 studied with soft-x-ray-absorption spectroscopy.
SAKHO O
(Lab. Utilisation du Rayonnement Electromagn<span style=text-decoration:overline>e ́</span>tique, Orsay, FRA)
,
SACCHI M
(Lab. Utilisation du Rayonnement Electromagn<span style=text-decoration:overline>e ́</span>tique, Orsay, FRA)
,
SIROTTI F
,
ROSSI G
資料名：
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 47 号： 7 ページ： 3797-3801 発行年： 1993年02月15日
JST資料番号： D0746A ISSN： 1098-0121 CODEN： PRBMDO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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