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文献
J-GLOBAL ID：200902138865619247
整理番号：94A0250781
AC結合Siマイクロストリップ検出器用FOXFETバイアス回路の耐放射線性
Radiation Tolerance of the FOXFET biasing scheme for AC-coupled Si microstrip detectors.
BACCHETTA N
(INFN, Padova, ITA)
,
BISELLO D
(INFN, Padova, ITA)
,
CANALI C
(INFN, Padova, ITA)
,
DA ROS R
(INFN, Padova, ITA)
,
FUOCHI P G
(FRAE, CNR, Bologna, ITA)
,
FUSARO G
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
GIRALDO A
(INFN, Padova, ITA)
,
GOTRA YU
(INFN, Padova, ITA)
,
VERZELLESI G
(INFN, Padova, ITA)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 40 号： 6 Pt 1 ページ： 1602-1609 発行年： 1993年12月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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