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文献
J-GLOBAL ID：200902139086609002
整理番号：02A0765162
Siチップからの電界放出電流 超高速時間分解測定
Field emission current from Si tip: Ultra-fast time resolved measurements.
HIRAYAMA S
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
WATANABE F
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
TAKAHASHI T
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
MOTOOKA T
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 515 号： 2/3 ページ： 369-376 発行年： 2002年09月01日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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