文献
J-GLOBAL ID:200902139597616813
整理番号:98A0023755
パルス力モードの原子間力顕微鏡による水中のチップと試料表面間の電気二重層力のマッピング
Mapping of electrical double-layer force between tip and sample surfaces in water with pulsed-force-mode atomic force microscopy.
著者 (5件):
MIYATANI T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
HORII M
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
ROSA A
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
FUJIHIRA M
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
MARTI O
(Univ. Ulm, Ulm, DEU)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
71
号:
18
ページ:
2632-2634
発行年:
1997年11月03日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)