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文献
J-GLOBAL ID：200902140453855609
整理番号：94A0625504
Comparison measurement in the hundred nanometer range with a crystalline lattice using a dual tunneling-unit scanning tunneling microscope.
KAWAKATSU H
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
HIGUCHI T
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KOUGAMI H
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KAWAI M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
WATANABE M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
HOSHI Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
NISHIOKI N
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻： 12 号： 3 ページ： 1681-1685 発行年： 1994年05月
JST資料番号： E0974A ISSN： 1071-1023 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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