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文献
J-GLOBAL ID：200902140698699424
整理番号：99A0662217
酸素吸着Si(001)2×1及びGe(001)2×1表面の障壁高さの画像化
Barrier-Height Imaging of Oxygen-adsorbed Si(001)2×1 and Ge(001)2×1 Surfaces.
KUROKAWA S
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YAMASHITA H
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YOSHIKAWA J
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SAKAI A
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 38 号： 6B ページ： 3845-3848 発行年： 1999年06月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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