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文献
J-GLOBAL ID：200902141045568690
整理番号：01A0857998
高度異方性窒化けい素での橋かけ応力のRamanマイクロプローブ評価
Raman Microprobe Evaluation of Bridging Stresses in Highly Anisotropic Silicon Nitride.
PEZZOTTI G
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
ICHIMARU H
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
FERRONI L P
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
HIRAO K
(National Industrial Res. Inst. Nagoya, Nagoya, JPN)
,
SBAIZERO O
(Univ. Trieste, Trieste, ITA)
資料名：
Journal of the American Ceramic Society
(Journal of the American Ceramic Society)
巻： 84 号： 8 ページ： 1785-1790 発行年： 2001年08月
JST資料番号： C0253A ISSN： 0002-7820 CODEN： JACTAW 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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