文献
J-GLOBAL ID:200902141386512293
整理番号:00A0111697
SeS2を使うエピタキシャルリフトオフ技術によるSi上の高品質GaAs
High-quality GaAs on Si substrate by the epitaxial lift-off technique using SeS2.
著者 (4件):
AROKIARAJ J
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
SOGA T
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
JIMBO T
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
UMENO M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
75
号:
24
ページ:
3826-3828
発行年:
1999年12月13日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)