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文献
J-GLOBAL ID：200902141578386496
整理番号：01A0552144
走査型プローブ顕微鏡(SPM)による低電界放出ダイヤモンド膜の特性
Characteristics of low field-emission diamond films by scanning probe microscopy(SPM).
ZHANG L
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
SAKAI T
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
SAKUMA N
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
ONO T
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
資料名：
Diamond and Related Materials
(Diamond and Related Materials)
巻： 10 号： 3/7 ページ： 829-833 発行年： 2001年03月
JST資料番号： W0498A ISSN： 0925-9635 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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